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晶体管热阻测试系统
晶体管热阻测试系统
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晶体管热阻测试系统

型号/规格:

BJ2989

品牌/商标:

北京无线电仪器厂

产品信息

【概述】 

BJ2989晶体管热阻综合测试系统,目前可测试晶体三极管、场效应晶体管、IGBT、二极管四种类型功率器件热阻参数,也有专门针对某一种器件热阻测试的分系统。测试晶体三极管热阻的系统还可以配置正偏二次击穿电压测试单元。

【技术指标】

1、加热功率

       加热电流:20A     漏极电压:300V  总功率:1200W

2、内部加热电流源IH   (0~20)A(±2%

内部测量电流源IM   (0~500)mA   (±0.5%)


3PN结电压测量表   (0~5)V    (±0.25%)

4、加热功率电压测量表 (0~300)V  (±0.25%)

5、加热脉宽:(125)×(110100)ms(125)×(1101001000)s ±1%

6、温度控制及测量

          测试平台温度控制:(-5~100) (±0.5);温度测量:(-5~200)  (±0.1)

恒温槽温度控制:室温~200  (±0.5);温度测量:(0~200)   (±0.1)

【主要特点】

● 可测试瞬态热阻,也可测试稳态热阻;

● 测试精度高;

      ● 灵活的热敏参数M值测试,有两种测试方法:

            (1)快速测试方法,只测试PN结常温下的结压降,再与(-273.15,1267mV)进行线性计算M值,此方法非常快速便捷,在1S以内就可以确定一种器件的热敏参数M值;(2)依据国际标准IEC60747-9和美军标MIL-750E的方法,用两点法确定热敏参数M值,可以用油槽恒温加热,也可以用空气恒温加热。

      基于Windows系统的控制软件,测试条件可存储到器件文件库,测试效率高;

实时显示器件壳温测量温度曲线,绘制热阻曲线(从瞬态到稳态)、二次击穿曲线、结压降采样曲线、特定脉冲宽度加热下的安全工作区曲线,使用户轻松掌握热阻测试全过程。

●测试结果表格化显示,清楚明了,便于观察。可以存储为EXCEL格式,便于数据交流和阅读整理。可以打印,便于保存分析。